内建测试电路、隔离式栅极驱动芯片、测试平台及方法

本申请涉及一种内建测试电路、隔离式栅极驱动芯片、测试平台及方法。本申请的内建测试电路包括：低压侧测试电路，构建于隔离式栅极驱动芯片的低压侧管芯内，用于产生测试信号并提供给低压侧管芯内的低压侧信号收发通道，以通过低压侧信号收发通道根据测试信号确定得到低压侧信号并发射输出给隔离式栅极驱动芯片的高压侧管芯，以得到返回信号；并且基于测试信号和返回信号得到测试结果；以及高压侧测试电路，构建于隔离式栅极驱动芯片的高压侧管芯内，用于将高压侧信号转换后返回给低压侧管芯。本申请能够实现芯片的内建自测试，降低测试成本，提高测试效率。