一种芯片式集成漏电流检测的方法及装置

本发明涉及一种芯片式集成漏电流检测的方法及装置，其方法包括：通过芯片封装引线框架将第一线体和第二线体分别引入到目标芯片的输入回路和输出回路，其中第一线体和第二线体通过外部电源形成回路；在第一线体和第二线体上，分别布置数量相同且位置对称的多个磁敏传感单元；通过所述多个磁敏传感单元，测量多个预设位置的磁场数据；基于所述多个预设位置的磁场数据，计算目标芯片的漏电流。本发明通过芯片引线框架设计，将线体引入芯片内部，并通过磁敏传感单元测量磁场大小，从而实现了芯片漏电测量的小型化、集成化。