一种基于β值退化的晶体管可靠寿命预测方法

本发明公开了一种基于β值退化的晶体管可靠寿命预测方法，晶体管可靠寿命预测是基于失效物理模型的，与基于数理统计的传统可靠寿命预测方法相比，能够从晶体管微观失效物理入手，更加精准的反映晶体管的敏感参数退化情况，从而提高晶体管可靠寿命预测的精准度；晶体管可靠寿命预测考虑了敏感参数β的初始分布，更加符合晶体管外特性参数的实际情况，并基于此给出了指定可靠度下的寿命预测，对于晶体管的工程应用更加具有指导意义。