一种自适应点云采样调节的方法及系统

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一种自适应点云采样调节的方法及系统
申请号:CN202411812366
申请日期:2024-12-10
公开号:CN119600306A
公开日期:2025-03-11
类型:发明专利
摘要
一种自适应点云采样调节的方法,包括如下步骤:训练特征分析模型;以初始的采样率进行工件采样,获取工件的点云数据,将点云数据输入至所述特征分析模型中获取到区域特征,基于区域特征划分出局部区域;基于所述区域特征对局部区域的采样率进行调节。基于区域特征的划分能够更精细地反映点云的局部结构,使得后续的采样率调整更加精准。这种精细化的划分方式有助于保留点云中的重要特征,如边缘、角点等,同时去除冗余信息,为后续的点云处理任务提供了更为有价值的数据基础。
技术关键词
采样率 子模块 点云 训练特征 滤波方法 密度 传播算法 邻域 数据 工件 矩阵 样条 指令 参数 冗余 基础
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