一种基于X光头颅侧位片的颌位分析系统及方法

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一种基于X光头颅侧位片的颌位分析系统及方法
申请号:CN202411821950
申请日期:2024-12-11
公开号:CN119587062A
公开日期:2025-03-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于X光头颅侧位片的颌位分析系统及方法,基于X光头颅侧位片的颌位分析系统包含:X光头颅侧位片描记程序模块、髁突中心点计算程序模块、髁突中心点偏移程序模块、牙冠分割投影程序模块、牙冠投影重合程序模块、配准程序模块、髁突坐标系生成程序模块、矩阵计算程序模块、输出程序模块和关节显示程序模块,该颌位分析方法仅需常规正畸检查分析使用的X光头颅侧位片,CR、ICP位的上下颌三维牙齿模型就完成颌位的分析,无需石膏模型与传统颌架,极大方便了临床医生进行颌位异常的筛查,辅助正畸医生进行更好的方案设计,预防可能的颞下颌关节问题,让矫正结果更加稳定。
技术关键词
下颌牙齿模型 牙冠 投影轮廓线 分析系统 三维牙齿模型 连线 建立基准坐标系 分析方法 矩阵 三维模型 关节点 石膏模型 影像 颌架 Y轴 射线 顶点
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