一种基于米散射与荧光发射双通道信号的荧光寿命特征值提取方法和系统

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一种基于米散射与荧光发射双通道信号的荧光寿命特征值提取方法和系统
申请号:CN202411832956
申请日期:2024-12-12
公开号:CN119715477B
公开日期:2025-12-05
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于米散射与荧光发射双通道信号的荧光寿命特征值提取方法和系统,涉及大气污染物探测领域,该方法包括:获取双通道信号;双通道信号包括原始米散射信号和原始荧光发射信号;构建仿真模型;设置荧光寿命;将原始米散射信号和设置的荧光寿命作为仿真模型的输入,得到预测荧光发射信号;确定原始荧光发射信号与预测荧光发射信号间的偏差,并返回执行设置荧光寿命的步骤,直至达到设定的迭代次数时,将最小偏差对应的荧光寿命作为荧光寿命特征值提取结果。本申请能够突破纳秒级长脉宽脉冲激光无法测量荧光寿命特征值的限制,同时极大程度地提高激光雷达系统对气象条件及系统参数变化的鲁棒性。
技术关键词
特征值提取方法 激光雷达系统 寿命 信号 回波 非线性优化算法 仿真模型 偏差 全局优化算法 功率 望远镜 透过率 采样点 粒子 波长 荧光物质
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