一种嵌套式像素显示阵列面板的像素均匀分析方法

本发明提供一种嵌套式像素显示阵列面板的像素均匀分析方法，涉及面板像素分析领域，包括：获取同一型号面板的多批次产品信息，并选取得到与多批次产品信息对应的面板测试样品；结合预设性能测试指标并利用预设测试设备对面板测试样品进行性能测试，输出性能测试数据；利用预设分析模型对性能测试数据进行像素均匀性分析，输出第一结果；结合预设结果‑策略‑方法映射表，获取与第一结果匹配的校准策略和校准方法，并基于校准策略和校准方法对相应面板的生产策略和显示策略进行改进和调整。本发明可以及时发现面板在生产过程中的问题，并通过校准策略和校准方法对生产策略和显示策略进行改进，从而提高显示面板的像素均匀性和整体质量。