摘要
本发明公开了一种检测三维模型缺陷的方法、非易失性存储介质。其中,该方法包括:获取三维模型;对三维模型进行GPU切片,得到多个切片层图像;基于多个切片层图像,采用体素扩散算法进行倒杯口检测,确定倒杯口检测结果;或者基于多个切片层图像中预设颜色的像素点的数量,确定大截面检测结果;或者基于多个切片层图像中相邻切片层图像之间的差值图像,确定截面突变检测结果,其中,差值图像表征相邻切片层图像中的形状差异;基于倒杯口检测结果、大截面检测结果和截面突变检测结果,确定三维模型对应的缺陷检测结果。本发明解决了目前的缺陷检测具有局限性、检测速度较慢、效率较低的技术问题。
技术关键词
三维模型
切片
图像
非易失性存储介质
大截面
像素点
扩散算法
打孔位置
轮廓面积
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颜色
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