基于多光源补偿的电子芯片生产监测系统

本发明涉及电子元器件自动生产设备的技术领域，具体为一种基于多光源补偿的电子芯片生产监测系统，包括工作台，工作台的顶部倾斜，工作台上由高到低依次设有上料模块、点焊模块、图像检测模块和下料模块；上料模块用于对料盒中的芯片依次输送；点焊模块用于对位于焊接位的芯片进行点焊；图像检测模块用于采集点焊后芯片的检测图像；下料模块用于将图像检测模块检测合格的芯片依次输送到合格托盘上；工作台上设有输送通道和定位模块，输送通道供芯片移动，定位模块用于对芯片进行定位，供点焊模块点焊和图像检测模块采集检测图像。采用本方案，能够解决现有技术中在芯片生产过程中锡膏反光导致图像检测不准确的技术问题。