一种面向电子系统的多表征退化预测方法及相关设备

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一种面向电子系统的多表征退化预测方法及相关设备
申请号:CN202411840403
申请日期:2024-12-13
公开号:CN119903388A
公开日期:2025-04-29
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种面向电子系统的多表征退化预测方法及相关设备,属于关键参数长期退化趋势预测技术领域。方法包括获取时间序列和序列类别,对所述时间序列进行表征趋势分解,得到指示向量作为表征表示;基于所述时间序列对序列类别和指示向量进行深度融合,得到最终输出;将所述最终输出输入时序预测模型中,得到最终预测的时间序列,完成多表征退化预测。本发明提出的多表征退化预测方法,通过多表征兼容特征融合模块的设计,实现了对多种时序表征数据的高效处理与精准预测。该方法不仅显著提升了模型的适应能力、判别力与鲁棒性,还为复杂时序数据的处理提供了可靠的技术支持。
技术关键词
退化预测方法 电子系统 序列 时序预测模型 调制特征 趋势预测技术 ReLU函数 非线性 可读存储介质 处理器 预测系统 动态 上采样 模块 存储器 鲁棒性 计算机 参数 电子设备
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