缺陷检测方法、装置、系统及可读存储介质

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缺陷检测方法、装置、系统及可读存储介质
申请号:CN202411841634
申请日期:2024-12-13
公开号:CN119762458A
公开日期:2025-04-04
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种缺陷检测方法、装置、系统及可读存储介质,其中方法包括:采集异常工件的异常图片;通过深度学习模型对异常图片进行缺陷检测,并输出异常图片上的标注框的坐标信息,标注框将异常图片上的缺陷区域进行框选;根据坐标信息裁剪出包含缺陷区域的小型图片;对小型图片进行卷积处理,并提取出小型图片上的缺陷区域;对缺陷区域进行拟合分析,获取缺陷区域所对应的最小外接圆;根据最小外接圆的直径判断缺陷区域是否有效。本发明能够提高缺陷检测的效率。
技术关键词
深度学习模型 图片 缺陷检测方法 缺陷检测设备 环形光源 光电传感器 图像 标注工具 坐标 传送带 缺陷检测系统 缺陷检测装置 镜头 可读存储介质 判断缺陷 裁剪模块 线段 工件
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