一种芯片仿真验证方法、装置、电子设备及存储介质

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一种芯片仿真验证方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202411844617
申请日期:2024-12-16
公开号:CN119294316A
公开日期:2025-01-10
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种芯片仿真验证方法、装置、电子设备及存储介质。涉及芯片仿真技术领域,应用于仿真平台。上述方法包括:将监测信号输入至待监测芯片中,获取描述当前时间段内待监测芯片的信号状态的监测数据;将监测数据中包含的信号值与时间戳写入存储器,以使得软件平台从存储器中读取并分析监测数据,确定待监测芯片的性能状态。应用本申请实施例提供的方案能够提高芯片的性能分析效率。
技术关键词
芯片仿真验证 存储器 信号值 仿真平台 时间段 芯片仿真技术 分区 空闲存储空间 数据读取模块 通信接口 电子设备 数据分析模块 可读存储介质 数据获取模块 处理器 比特数 计算机
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