芯片的成品测试方法、存储介质、测试设备和系统

本发明提出一种芯片的成品测试方法、测试设备、测试系统和存储介质。测试方法包括以下步骤：读取待测芯片的唯一标识码，判断待测芯片的唯一标识码是否有误；对待测芯片进行若干项电气物理测试后执行芯片标志测试，判断待测芯片是否通过电气物理测试、芯片标志测试；待测芯片的若干项电气物理测试、芯片标志测试全部通过测试后，若唯一标识码无误，输出待测芯片的唯一标识码信息；否则，输出待测芯片的唯一标识码编写错误信息；若待测芯片在任意一项电气物理测试和/或芯片标志测试未能达到预定标准，分类输出待测芯片未通过测试的电气错误信息。通过本方法既可以确定每一个芯片的真实失效原因，还可以保留芯片的叠料检测功能。