一种金属化薄膜电容器容量衰减处理方法及系统

本发明属于电子设备故障处理技术领域，本发明公开了一种金属化薄膜电容器容量衰减处理方法及系统，包括：首先获取集成电路的历史数据，建立运行标准向量与元器件数据对应关系库；然后建立电路仿真模型，计算电容特征偏差向量；在检测到实时运行参数异常时，构建实时运行向量并从关系库中匹配相似历史状态，获取对应元器件数据；利用仿真模型得到仿真运行向量，并用电容特征偏差向量进行校正；通过分析校正运行向量与实时运行向量的相关性；若有相关性，则提取电容元器件数据并输出分析报告；若无相关性，则判定为非电容问题并生成相应报告。提高了故障诊断效率和准确性，实现了对故障电容器的快速定位和维修。