一种以太网PHY收发器芯片MII端口数据测试方法

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一种以太网PHY收发器芯片MII端口数据测试方法
申请号:CN202411851058
申请日期:2024-12-16
公开号:CN119814185A
公开日期:2025-04-11
类型:发明专利
摘要
本发明属于集成电路测试技术领域,特别涉及一种以太网PHY收发器芯片MII端口数据测试方法。包括如下步骤:步骤S1:对以太网PHY收发器芯片上电,并配置MII模式和数据速率,通过TXD[7:0]发送以太网数据包;步骤S2:ATE双沿采集RX_DV以及RXD[7:0];步骤S3:处理RX_DV得出数据长度为datalength;步骤S4:逐位处理RXD总线数据得出数组RXD_data;步骤S5:从RXD_data数组中提取4个数组,并转换为两位的十六进制数。本发明解决在集成电路测试系统上测试以太网PHY芯片各种MII模式接收到的数据难以测试的问题。
技术关键词
数据测试方法 集成电路测试系统 收发器 芯片 集成电路测试技术 数据总线 端口 信号 模式 速率 电平 代表
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