一种基于紫外线的纺织物关键点高精度检测方法

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一种基于紫外线的纺织物关键点高精度检测方法
申请号:CN202411854067
申请日期:2024-12-17
公开号:CN119334923B
公开日期:2025-08-15
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于紫外线的纺织物关键点高精度检测方法,涉及纺织材料技术领域,包括以下步骤:确定紫外线波长、构建紫外线荧光光谱特征库、调整紫外线光源、进行纺织物表面的图像采集、对采集到的紫外线荧光图像进行预处理、进行关键点特征提取、进行缺陷的识别与分类、通过图像分割对缺陷区域进行精确定位、输出检测结果。该基于紫外线的纺织物关键点高精度检测方法,通过引入光谱纹理联合分布模型与显著性分割模型,本方法实现了多维特征的深度融合与关键点精准定位。在紫外线光源均匀化照射的支持下,结合多维显著性分析,大幅提升了复杂背景下的检测鲁棒性和分割精度。
技术关键词
高精度检测方法 纺织物 关键点特征提取 荧光 纹理 像素点 特征值 消除环境光干扰 机器学习模型 图像滤波算法 光谱分析 纺织材料技术 图像增强算法 图像分割 复杂度 掩膜 织物结构
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