对容错系统的测试方法、系统、装置、电子设备及介质

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对容错系统的测试方法、系统、装置、电子设备及介质
申请号:CN202411855492
申请日期:2024-12-16
公开号:CN119669093B
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种对容错系统的测试方法、系统、装置、电子设备及介质,涉及计算机技术领域,尤其涉及人工智能、软件测试和模型训练技术领域。具体实现方案为:接收测试样例,其中测试样例包括:目标故障类型和预期行为数据。然后基于各种故障类型与预设故障之间的预设对应关系,确定目标故障类型对应的目标故障。再向待测试模型的训练设备注入目标故障。以及从容错系统中获取实际行为数据,实际行为数据为:容错系统为应对目标故障而执行的应对行为产生的数据。之后,对比实际行为数据和预期行为数据,得到对容错系统的测试结果。实现了降低测试过程的人力消耗。
技术关键词
容错系统 训练设备 数据 指令 框架 测试方法 模型训练技术 电话 消息 快照 电子设备 通知 计算机程序产品 处理器通信 匹配模块 关系 分析模块
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