一种双脉冲测试平台优化方法及装置

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一种双脉冲测试平台优化方法及装置
申请号:CN202411857482
申请日期:2024-12-17
公开号:CN119783620A
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种双脉冲测试平台优化方法及装置,该方法包括:根据测试回路中各元件的实际结构,建立双脉冲测试平台仿真模型;所述测试回路中的元件包括IGCT、二极管、钳位电容;将杂散电感值作为目标函数,采用PSO算法对所述双脉冲测试平台仿真模型中各元件的空间布局参数进行优化以得到最优的双脉冲测试平台空间布局。本发明能有效优化平台空间布局,减小回路杂散电感,抑制双脉冲测试过程中IGCT在关断瞬间承受的过电压,解决了双脉冲测试中电压过冲大、器件易损坏的问题。
技术关键词
双脉冲测试平台 钳位电容 仿真模型 母排 元件 电感值 二极管 计算机程序产品 回路 处理器 可读存储介质 坐标 杂散电感 算法 优化装置 参数 计算机设备 过电压
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