电流测量方法、半导体测试板卡及半导体测试设备

本申请适用于半导体测试技术领域，提供了一种电流测量方法、半导体测试板卡及半导体测试设备，包括：在采样时间内，对指定芯片的工作电流进行采样，得到多个第一采样点；获取每个第一采样点的电流变化斜率；基于基准采样点和每个电流变化斜率，对多个第一采样点进行识别，得到识别结果；基于识别结果，确定指定芯片的目标电流。本申请能够提高电流测量的稳定性和准确性。