半导体测试数据的处理方法、装置、设备及存储介质

本申请提供的一种半导体测试数据的处理方法、装置、半导体测试设备及存储介质，通过获取芯片的测试数据，其中，所述测试数据基于选择的采样通道进行采样得到；基于所述测试数据的存储地址确定所述测试数据对应的补偿参数；基于所述补偿参数对所述测试数据进行补偿得到目标数据；基于所述补偿参数中的通道掩码值建立各个目标数据与各个通道之间的对应关系；基于所述对应关系输出各个通道对应的目标数据，能够对测试数据进行补偿，从而提高精度，并且能够建立目标数据和各个通道的对应关系来进行显示，使得显示的波形更直观。