芯片崩边缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质

本发明实施例公开了一种芯片崩边缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质。方法包括：自初始图像中确定待测芯片的环形边缘区域；对环形边缘区域进行平滑处理以得到第一图像；对第一图像进行梯度计算以得到梯度图像；根据梯度图像中的各像素的梯度值确定初始图像中待测芯片的崩边缺陷区域。这种方案可以使崩边缺陷的检出率较高，缺陷检测结果较为准确，且缺陷检测效率较高。