缺陷类别的检测方法和装置、电子设备和存储介质

本发明实施例提供了一种缺陷类别的检测方法和装置、电子设备和存储介质。缺陷类别的检测方法包括：获取目标对象的多个待测缺陷图像；利用经训练的大模型，针对目标对象的缺陷，对多个待测缺陷图像进行分类，获得分类结果；根据分类结果，确定多个待测缺陷图像中的第一缺陷图像的缺陷类别；对多个第二缺陷图像进行聚类，基于聚类结果确定每个第二缺陷图像的缺陷类别，多个第二缺陷图像是多个待测缺陷图像中的、第一缺陷图像以外的缺陷图像。支持零样本学习，强大的泛化能力，可以识别出未知的缺陷类别。对大模型分类失败的缺陷图像进行聚类。实现对待测缺陷图像的自动化地缺陷分类，无需人工参与，节省人力；保证所获得的检测结果的准确性。