产品缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质

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产品缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质
申请号:CN202411885809
申请日期:2024-12-18
公开号:CN119992159A
公开日期:2025-05-13
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种产品缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质。方法包括:获取目标产品的原始图像和尺寸调整图像,尺寸调整图像是对原始图像进行尺寸缩小调整得到的;基于尺寸调整图像进行多个轮次的下采样处理和特征融合处理,得到不同目标尺寸下的特征融合图像;基于不同目标尺寸下的特征融合图像,确定尺寸调整图像中的缺陷连通域;基于缺陷连通域,从原始图像中分割出包含背景的缺陷类别检测图像;基于缺陷连通域和缺陷类别检测图像进行缺陷类别检测,得到目标产品对应的缺陷检测结果。采用本申请,能够实现提高产品缺陷检测的准确性。
技术关键词
缺陷类别 产品缺陷检测方法 训练样本图像 尺寸 对象 产品缺陷检测装置 计算机设备 图像获取模块 标签 像素点 图像分割 处理器 可读存储介质 存储器
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