一种自适应高度的双面射频芯片性能测试夹具

本发明提供了一种自适应高度的双面射频芯片性能测试夹具，包括上测试组件和下测试组件；所述上测试组件包括上座、上安装凹槽、上连接凹槽和上限位架。本发明通过独特的上、下测试组件结构，如各部件在凹槽内的协同运作及弹性垫片辅助，确保双面芯片测试时正反两面测试探针精准对位并稳定压紧，解决对位精度与压紧力度难题，同时，针对芯片平整度不佳、倾斜及基板高低差，上、下测试组件中的可滑动导体连接块与弹性垫片能自适应调整，保障接触良好，降低误测率，提高测试一致性与准确性；通过高度调节组件中螺纹传动等原理，配合多种限位和缓冲结构，实现精准稳定的高度调节，适配不同厚度的芯片规格，增强夹具通用性与使用灵活性，降低成本。