闪存存储芯片测试设备

本实用新型涉及闪存存储芯片测试设备技术领域，具体公开了闪存存储芯片测试设备，包括底板，所述底板的上端面固定连接有测试座，所述测试座的上方设置有上盖，所述上盖的下端面连接有压头，所述底板的上端面两侧均固定连接有导向杆，所述上盖的两侧均固定连接有导向套，所述导向套与导向杆滑动套接，所述测试座包括座体，所述座体的上端面内侧开设有测试槽，所述测试槽的内部设置有抬出组件，所述抬出组件包括框架，所述框架的两侧均固定连接有连接架。本实用新型中，设置有抬出组件，使得芯片引脚能够准确地与测试槽内引脚孔位接触，保证测试效果，取放芯片方便，使用起来更加便捷。