一种芯片性能检测装备

本实用新型公开了一种芯片性能检测装备，包括检测装置主体、安装在所述检测装置主体前侧的控制面板、固定安装在检测装置主体中部后端的测试仪和与所述测试仪相连接的5组测试组件，龙门搬运组件，所述龙门搬运组件固定安装在支柱的上端。该芯片性能检测装备，便于对被检测的芯片进行自动上料，结合Z轴吸嘴对芯片进行吸附后通过龙门搬运组件和搬运摆臂能够带动芯片输送和转移，芯片置于转塔上通过测试仪和测试组件进行全方位检测，通过两组转塔能够实现高温和常温两个分开电性能测试，通过双转塔机构,能够分开芯片高温和常温两种温度环境测试，检测效率高，同时采用测试座旋转，芯片检测只有两次扎针，针痕小。