闪存存储芯片测试装置

本实用新型涉及芯片测试装置技术领域，具体公开了闪存存储芯片测试装置，包括底板，所述底板的上端面两侧均固定连接有导轨，两个所述导轨的上侧均滑动连接有滑座，所述滑座的上端固定连接有支撑架，两个所述支撑架之间固定连接有横向移动组件，所述底板的上端面一侧连接有纵向移动组件，所述纵向移动组件与滑座连接，所述横向移动组件包括滑台，所述滑台的外端固定连接有升降气缸，所述升降气缸的下端固定连接有负压吸头，所述底板的上端面前侧固定连接有多个测试座，多个所述测试座的一侧均连接有转动升降组件。本实用新型中，自动化程度高，工作效率快，能够满足芯片的大规模生产测试需求。