一种空间点目标光度天基定量测量方法及装置

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一种空间点目标光度天基定量测量方法及装置
申请号:CN202411888053
申请日期:2024-12-19
公开号:CN119831884B
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种空间点目标光度天基定量测量方法及装置,解决了如何提升空间点目标光度天基定量测量效率和精度问题;属于光电探测领域;包括:对原始图像进行非均匀校正和双边滤波去噪得到预处理图像;采用众数方法估计预处理图像暗场值作为背景灰度值;若在预处理图像中检测到点目标,进行测光孔径计算,得到光信噪比最大时的测光孔径,否则直接反馈无效信息;将测光孔径参数输入定标响应关系函数中,计算出点目标的反演光度值;根据点目标光度值误差模型或点目标光度值误差传递模型,计算星等误差或星等标准差,验证空间点目标光度天基定量测量精度。本发明提升了空间点目标光度测量效率和精度。
技术关键词
光度 图像 定量测量方法 定标系数 误差模型 滤波去噪 数传系统 信噪比 换算方法 卫星成像系统 探测器 校正 参数 数据 邻域 光电设备 像素点 精度
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