一种数字波束合成单芯片功能测试方法

本申请公开了一种数字波束合成单芯片功能测试方法，具体涉及芯片测试的领域。采用测试系统进行测试，测试系统包括信号发生板、波束检测板，方法包括：通过信号发生板模拟各种临界实际使用场景下芯片的输入数据，产生多种速率多种类型的数据下发到待测芯片，并结合波束检测板测试芯片可适应的最大传输速率及传输协议的正确性，确定待测芯片的各通道的处理延迟，同时对输入信号的各通道的时延差进行一定范围内的遍历，验证待测芯片功能的准确性与可靠性；可实现对数字波束合成单芯片的多个关键性能的联合整体测试；适用于宽、窄带不同输入通道数、不同输入数据率的数字波束合成芯片的测试。