显微扫描系统及显微扫描系统的快速对焦方法

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显微扫描系统及显微扫描系统的快速对焦方法
申请号:CN202411900245
申请日期:2024-12-23
公开号:CN119667927A
公开日期:2025-03-21
类型:发明专利
摘要
本公开提供一种显微扫描系统及显微扫描系统的快速对焦方法。该显微扫描系统包括:载物台、顶块相机和光源;载物台上开设有容置凹槽;顶块可滑动地设置于载物台,物体能够与倾斜表面接触;顶块上设置有标识部;当物体使得顶块的标识部位于第二位置时,根据顶块的标识部的第二位置获得物体的第二姿态;相机用于获得顶块的标识部的位置。本发明显微扫描系统不受制于样本情况,无论载玻片上有无样本,样本高低差如何,都可以实现载玻片的倾斜角度的测量,提高了测量的稳定性。另外本发明在不增加额外测量装置的情况下,依托显微扫描系统的既有资源(相机、载物台、光源、顶块),通过视觉算法,测量载玻片倾斜角度,节省了系统成本和调试成本。
技术关键词
显微扫描系统 扫描视场 载物台 物体 相机 倾斜表面 容置凹槽 评价算法 图像 标识 坐标 载玻片 光源 视觉算法 缝隙 样本 偏差 资源
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