一种跟踪扫描测量集成系统、跟踪扫描测量方法及平台

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一种跟踪扫描测量集成系统、跟踪扫描测量方法及平台
申请号:CN202411901077
申请日期:2024-12-23
公开号:CN119687829B
公开日期:2025-06-17
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种跟踪扫描测量集成系统、跟踪扫描测量方法及平台,控制装置在跟踪测量模式下,控制激光发射源向接触激光跟踪装置发射测距激光,并根据接触激光跟踪装置反馈的光测距信号控制二维测角驱动装置和激光测距装置带动接触激光跟踪装置实时跟踪设定的跟踪合作目标,以实时获取跟踪合作目标与待测量面接触点的坐标数据;在扫描测量模式下,控制激光发射源向非接触激光扫描装置发射测距激光,并根据非接触激光扫描装置反馈的光测距信号控制二维测角驱动装置和激光测距装置带动非接触激光扫描装置扫描待测量面以获取扫描点云数据。本发明可通过一台仪器实现高精度跟踪坐标测量和高效率扫描测量,显著提升检测效率。
技术关键词
激光跟踪装置 激光测距装置 激光扫描装置 透镜组件 水平回转轴 集成系统 回转驱动机构 扫描路径规划 扫描测量方法 角接触轴承 摄远物镜 扫描点云数据 旋转支撑架 俯仰电机 跟踪器 光信号处理 电机安装座 扫描设备
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