一种应用于光芯片测试的噪声校正系统及噪声校正方法

本发明公开了一种应用于光芯片测试的噪声校正系统，包括光源模块、偏振控制模块、光功率监测模块、光传输模块和光功率探测模块；光源模块输出光束用于光芯片测试，入射至偏振控制模块；偏振控制模块将光源模块的输出光束调制为具有特定偏振状态的光；光功率监测模块用于监测检测偏振控制模块输出光功率；光传输模块用于连接光功率监测模块和光功率探测模块；光功率探测模块用于测试和记录光传输模块的输出光功率。本发明还公开了一种应用于光芯片测试的噪声校正方法。优点，该系统是一个多光强测试系统，并需要校准光器件作为定标使用；该方法通过芯片测试系统的线性扰动理论对光芯片测量噪声进行多项式拟合，实现光芯片测试系统的噪声校正。