GIS缺陷检测方法及装置

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GIS缺陷检测方法及装置
申请号:CN202411905225
申请日期:2024-12-23
公开号:CN119741283A
公开日期:2025-04-01
类型:发明专利
摘要
本申请公开了GIS缺陷检测方法及装置,包括将GIS设备的X射线检测的原始图像IOriginal进行灰度化处理获得灰度图像Igrqy,将灰度图像Igrqy采用高斯模糊处理去掉灰度图像Igrqy的噪声获得模糊图像Iblur,再利用Sobel算子计算模糊图像Iblur的水平和垂直度,最后将模糊图像Iblur进行像素值调整处理获得目标图像Itarget;采用Canny边缘检测算法对目标图像Itarget进行边缘提取,采用最小二乘法进行成对像素中心线拟合的步骤,通过判断曲率k(x)、曲率变化率ki以及分叉数P之间的关系确定当前检测缺陷类型。本发明根据GIS设备现存的可能发生的缺陷类型进行分析,针对性的提出中心线曲率、曲率变化及分叉相结合的方法对缺陷类型进行识别,相较于人工逐张图像查阅识别和判断而言,效率大大提高。
技术关键词
GIS缺陷检测 缺陷检测方法 边缘检测算法 中心线 检测缺陷 GIS设备 垂直度 疲劳裂纹 图像像素 存储器 关系 对象 噪声 处理器 程序 幅值 滤波 坐标
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