缺陷类别检测方法及系统、电子设备、存储介质

本申请实施例提供了一种缺陷类别检测方法及系统、电子设备、存储介质，属于光学检测技术领域。该方法包括：确定目标检测器件中相邻的第一检测面和第二检测面构成的目标检测角；基于第一图像采集设备、第二图像采集设备和第三图像采集设备，分别对目标检测角进行图像采集，得到第一检测图像、第二检测图像和第三检测图像，并基于第一检测图像、第二检测图像和第三检测图像分别对目标检测角进行缺陷类别检测，得到第一缺陷类别、第二缺陷类别和第三缺陷类别；基于第一缺陷类别、第二缺陷类别和第三缺陷类别确定目标检测角的目标缺陷类别。本申请实施例能够准确且高效地对带有R角的器件进行缺陷类别检测。