一种用于测量双包层增益光纤光致暗化效应的方法及系统

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一种用于测量双包层增益光纤光致暗化效应的方法及系统
申请号:CN202411915923
申请日期:2024-12-24
公开号:CN119756784B
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种用于测量双包层增益光纤光致暗化效应的方法及系统,涉及特种光纤领域。通过获取不同长度的双包层增益光纤在特定条件下的功率损耗数据,并搭建光致暗化效应的模型,再对每条光纤的功率变化进行处理,消除长度影响后的数据进行归一化处理,并设立目标函数,再进行模型参数优化,获得最优的不同光纤长度与对应功率的数据参考表,利用模型计算待测光纤在预设波段的功率在光致暗化前后的变化百分比,将测量结果与参考数据进行比较,若差值小于误差阈值,则视为待测光纤的有效测量结果;本发明进行了系统化的步骤,提高了数据处理的精确度,从而提高了测量双包层增益光纤的光致暗化效应的准确性和可靠性。
技术关键词
待测光纤 泵浦光源 效应 功率计 梯度下降算法 损耗 特种光纤 曲线 数据获取模块 误差 熔接机 测试模块 波长 光栅 功率值 时间段
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