芯片仿真缺陷生成方法、装置、计算机设备及存储介质

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芯片仿真缺陷生成方法、装置、计算机设备及存储介质
申请号:CN202411916096
申请日期:2024-12-24
公开号:CN120706339A
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种芯片仿真缺陷生成方法、装置、计算机设备及存储介质,所述方法包括:获取初始模型;对初始模型进行训练,得到仿真缺陷模型;根据仿真缺陷模型,生成芯片仿真缺陷图像;其中,仿真缺陷模型包括:编码器、跳层连接器和解码器,根据仿真缺陷模型,生成芯片仿真缺陷图像,包括:编码器接收原始芯片图像,将原始芯片图像的RGB颜色特征层转换为顺序特征图,将顺序特征图输出至解码器,跳层连接器根据原始芯片图像的RGB颜色特征层生成跳层特征图,并将跳层特征图跳层传输至解码器,解码器根据顺序特征图、跳层特征图和风格代码,生成芯片仿真缺陷图像。本发明可以生成训练模型中没有的缺陷,使得缺陷的种类更丰富。
技术关键词
解码器 芯片 图像 风格 编码器 颜色 生成方法 计算机设备 处理器 残差网络 模块 随机噪声 生成装置 可读存储介质 多通道 存储器 参数
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