一种大容量非易失存储器单粒子效应测试分析系统及方法

本发明公开了一种大容量非易失存储器单粒子效应测试分析系统及方法，系统包括：上位机模块、FPGA控制模块、程控电源模块。该系统用于测试分析大容量非易失存储器芯片在动态工作模式下出现的各类单粒子效应。根据动态工作模式的存储器中读出的错误数据，通过在FPGA测试程序中预设各类单粒子功能中断的错误位图规则，对各类单粒子功能中断进行实时分析鉴别，并甄别存储单元的单粒子翻转。所述系统能够实现大容量非易失存储器的多种复杂单粒子效应的测试和实时分析，进而能够对存储器芯片的敏感位置进行抗辐射加固和评估，具有较强的针对性。