一种半导体器件、一种半导体器件的制备方法和一种芯片

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一种半导体器件、一种半导体器件的制备方法和一种芯片
申请号:CN202411917791
申请日期:2024-12-24
公开号:CN119947139A
公开日期:2025-05-06
类型:发明专利
摘要
本发明实施例提供了一种半导体器件、一种半导体器件的制备方法和一种芯片,该半导体器件包括:N+型衬底,具有高掺杂浓度,从而具有较低的电阻率,能够提供低电阻的电流路径;N型外延层,包括N型外延层本体和第一沟槽,N型外延层本体设于N+型衬底一侧的表面,第一沟槽设于N型外延层本体中,可以降低导通电阻,同时保持较高的电学性能,提高了半导体器件的效率;第一P+区,设于N型外延层本体的第一沟槽中,用于提供空穴;第二沟槽,形成于第一P+区,用于填充欧姆接触金属,从而增大欧姆金属接触面积,提高半导体器件的抗浪涌能力,减小反向漏电;第二P+区,设于第二沟槽下方,用于增加半导体器件的抗浪涌电流能力。
技术关键词
半导体器件 二氧化硅掩膜 外延 沟槽 衬底 浪涌电流能力 碳膜 碳化硅 低电阻 芯片 阴极 阳极 基材 离子
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