一种SMT贴片半成品的阶段式质量检测方法及系统

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一种SMT贴片半成品的阶段式质量检测方法及系统
申请号:CN202411919114
申请日期:2024-12-25
公开号:CN119850011A
公开日期:2025-04-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种SMT贴片半成品的阶段式质量检测方法及系统,具体涉及电子制造质量管理技术领域,包括以下步骤:通过对生产线每个阶段进行质量检测,记录检测结果并形成检测结果集,利用时间间隔分布分析识别生产节奏失衡的早期迹象;若存在失衡迹象,进一步进行缺陷频率波动指数和生产线动态紊乱指数的计算,量化不合格现象的动态波动与系统性问题;将两项指数输入预先训练的机器学习模型,通过模型输出区分生产线的质量状态为高质量或低质量;对于低质量生产线,依据预设调整策略进行优化;本方法能实时监控生产线质量状态,精准区分偶然问题与非偶然问题,提升质量管理效率,保障生产线稳定运行并降低不合格产品比例。
技术关键词
SMT贴片 阶段 半成品 指数 机器学习模型 异常信号 卷积神经网络模型 频率 缺陷分析 异常点 动态 保障生产线 监控生产线 策略 逻辑 序列 识别模块 分析模块 数据
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