驱动芯片诊断方法及相关设备

本申请公开了一种驱动芯片诊断方法及相关设备，涉及车辆技术领域，该方法包括：通过第一IO扩展芯片的第一IO端口对第一驱动芯片进行诊断使能，其中，第一IO扩展芯片是与车辆微控制单元的通讯端口连接的IO扩展芯片，第一驱动芯片的使能引脚和第二驱动芯片的使能引脚均连接于第一IO端口；通过第一模拟采样端口接收第一驱动芯片反馈的第一诊断电压，其中，第一驱动芯片的电压回采端口和第三驱动芯片的电压回采端口均连接于第一模拟采样端口；基于第一诊断电压，确定第一驱动芯片的健康状态。本申请通过预设阵列结构和共享模拟端口连接，优化了硬件资源使用，简化了诊断逻辑，提升了驱动芯片诊断的效率、可靠性和可扩展性。