硅锭外观缺陷检测系统

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硅锭外观缺陷检测系统
申请号:CN202411925449
申请日期:2024-12-25
公开号:CN119880906A
公开日期:2025-04-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开了硅锭外观缺陷检测系统,涉及缺陷检测技术领域,包括激光源模块、相机模块、图像处理模块、AI检测模块、控制与反馈模块,所述激光源模块使用200W的1300nm激光器作为照明并从侧面斜拍,所述相机模块采用两行Sensor的1K黑白线扫铟镓砷相机,并设置两套曝光参数以实现高动态范围成像,所述图像处理模块使用特定的算法对获取到的两张图像进行处理,包括行交替抽取、拼接及亮度均匀性比较,所述AI检测模块用于通过训练的AI模型对选定的图像进行分析,判断是否存在隐裂缺陷,所述控制与反馈模块控制各模块的协同工作,反馈检测结果至用户界面,提供系统状态和检测结果,本发明,具有自动化程度高的特点。
技术关键词
外观缺陷检测系统 激光源模块 相机模块 图像处理模块 图片 隐裂缺陷 硅锭 缺陷检测技术 激光器 更新系统 参数 亮度 标记 算法 文件夹 透光率 项目
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