摘要
本发明提供的DRC规则制定方法、装置、设备及存储介质,获取DR说明文件和旧版DRC配置文件;获取的所述DR说明文件和所述旧版DRC配置文件进行预处理得到基础数据,基于基础数据建立DRC领域知识库;利用所述DRC领域知识库数据建立DRC制定模型,对DRC制定模型的参数进行监督微调,增强所述DRC制定模型对DRC领域知识库的检索能力,通过Few‑shot Learning优化所述DRC制定模型的输出结果;基于不同DR数据对所述旧版DRC配置文件进行更新,以输出相应的新版DRC配置文件。本发明的实施可以提高DRC配置文件的开发质量,确保芯片设计验证环节中DRC生成的准确性,缩短DRC开发时间。
技术关键词
模式识别技术
数据
芯片设计验证
非暂态计算机可读存储介质
样本
监督学习算法
基础
正则化参数
标签
处理器
聚类算法
预测误差
脚本
模块
存储器
有效性
定义
电子设备
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标签特征
卷积神经网络模型
生成方法
多模态
生成标签
工业软测量方法
神经网络预测模型
代表
吸收塔出口
超参数