一种芯片分离方法

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一种芯片分离方法
申请号:CN202411933282
申请日期:2024-12-26
公开号:CN119738692A
公开日期:2025-04-01
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种芯片分离方法,其中,包括:获取芯片封装体;对芯片封装体进行预处理,得到预处理后的芯片封装体;基于第一预设加热温度和第一预设反应时间,控制预处理后的芯片封装体在发烟硝酸中进行反应,以使预处理后的芯片封装体中的芯片组与基板分离;对分离出的芯片组进行超声清洗,得到超声清洗后的芯片组;基于第二预设加热温度和第二预设反应时间,控制超声清洗后的芯片组在预设比例的混酸溶液中进行反应,得到混酸反应后的芯片组;基于第三预设加热温度和第三预设反应时间,控制混酸反应后的芯片组在乙二胺中进行反应,以从混酸反应后的芯片组中完整分离出各层芯片晶圆。本申请能够从封装体内部无损的解剖分离出各层芯片晶圆。
技术关键词
芯片封装体 散热盖 加热 存储类芯片 晶圆 溶液 控制研磨机 硅中介层 芯片堆叠 封装基板 陶瓷基板 丙酮 硫酸 氮气 激光 纯水
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