一种电子元器件外观缺陷检测系统及方法

本发明涉及外观缺陷检测技术领域，尤其涉及一种电子元器件外观缺陷检测系统及方法，包括外观缺陷检测平台、图像识别单元、扫描识别单元、光照核验分析单元、追踪自检单元以及显示反馈单元；本发明通过初步图像分析了解待检测电子元器件各个面是否存在可疑缺陷，以便进一步对待检测电子元器件的外观进行缺陷检测，而通过信息反馈的方式对待检测电子元器件的可疑面进行激光扫描和光检两种方式进行分析，进而准确的分析出待检测电子元器件各个面的外观缺陷情况，且在进行光检的过程中通过调整光照角度进行重复复检，进而有助于降低检测偶然性的出现，而通过信息交互分析方式，以便准确分析可疑面是否存在外观缺陷，有助于提高缺陷检测效率。