芯片测试方法、系统、芯片、电子设备及计算机可读存储介质

本申请实施例涉及芯片技术领域，公开了一种芯片测试方法、系统、芯片、电子设备及计算机可读存储介质，该芯片测试方法通过第一TDR寄存器捕获TDI引脚的输入数据，以将输入数据输入到扫描电路，并通过第二TDR寄存器捕获扫描电路的输出数据，以通过TDO引脚输出，并进一步通过JTAG工具将TDO引脚的输出数据与预期数据进行比对，以确定芯片的故障状态，本申请能够避免将芯片从电路板上拆卸以进行复测的操作，实现直接在电路板上利用芯片JTAG端口实现芯片的测试，提高芯片故障检测的效率。