一种电脑显卡铝合金压铸件的表面粗糙度测量方法

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一种电脑显卡铝合金压铸件的表面粗糙度测量方法
申请号:CN202411942916
申请日期:2024-12-27
公开号:CN119756245B
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本申请涉及压铸件表面粗糙度测量技术领域,具体涉及一种电脑显卡铝合金压铸件的表面粗糙度测量方法,该方法包括:基于任一角度下各点位的相位值与压铸件表面所有点位的相位值平均分布情况之间的差异,并结合各点位的邻域内任意两个相邻点位的相位值之间的差异,确定反射强度;基于任一角度下各点位的反射强度与压铸件表面所有点位的反射强度极端分布情况之间的差异,确定高反射影响度;基于任一角度下各点位的相位校正值和相位值之间的差异,以及各点位所在切平面与激光光束之间的夹角,对压铸件表面的粗糙度进行测量。本申请旨在提高电脑显卡铝合金压铸件表面粗糙度测量结果的精度。
技术关键词
铝合金压铸件 电脑显卡 邻域 粗糙度参数 表达式 光束 点云模型 激光 坐标系 软件 数值 精度
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