调试测试参数的方法、装置、设备和介质

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调试测试参数的方法、装置、设备和介质
申请号:CN202411951316
申请日期:2024-12-26
公开号:CN119883775A
公开日期:2025-04-25
类型:发明专利
摘要
本申请实施例公开了一种调试测试参数的方法、装置、设备和介质,方法包括:基于预设间隔值,从初始参数值序列中获取第一参数值序列,基于第一参数值序列中各参数值对应的测试结果,在第一参数值序列中确定第二参数值序列,对第二参数值序列的参数值扩增处理,得到扩增参数值信息,基于扩增参数值信息中各参数值对应的测试结果,确定测试参数对应的目标参数值范围。由此,在本申请实施例中通过在第一参数值序列中选择测试结果均为测试成功的多个参数值组成第二参数值序列,确保了后续利用第二参数值序列获得的扩增参数值信息的精确性,进而确保了确定的目标参数值范围的精确性,提高了调试效率。
技术关键词
序列 芯片测试设备 参数 存储计算机程序 扩充模块 可读存储介质 存储器 处理器 电子设备
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