RTK仪器结合激光扫平仪高精度高程放样方法

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RTK仪器结合激光扫平仪高精度高程放样方法
申请号:CN202411956732
申请日期:2024-12-29
公开号:CN119779243A
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
本发明公开了RTK仪器结合激光扫平仪高精度高程放样方法,该方法基于激光高程放样算法实现,其特征在于,包括以下步骤:确认设备RTK测量仪器、激光扫平仪、激光接收器、RTK对中杆或超长对中杆、卷尺、水准点信息,通过Andro id Stud io或Xcode作为开发环境开发激光高程放样算法并安装激光高程放样算法软件至RTK手簿或智能手机,计算校准值;计算扫平仪激光高程;计算对中杆位置填挖数值;重复测量与放样。本发明实现了单人操作进行毫米级高程放样,RTK和激光扫平仪结合可以放样施工现场随机位置填挖数值精度达到毫米级,即使施工现场随机位置设计高程不一样也可放样,相对水准仪高程放样,大大提高了放样效率,相对RTK高程放样,大大提高了放样精度。
技术关键词
激光扫平仪 激光接收器 放样方法 软件 施工场地 算法 施工现场 智能手机 紧固卡扣 数值 校准 地面 水准仪 屏幕 刻度 单人 精度
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