芯片测试方法、装置、管理服务平台和电子设备

本申请实施例公开了一种芯片测试方法、装置、管理服务平台和电子设备，方法包括：管理服务平台将第一目标绑定结果与第一预设绑定信息匹配，并在匹配成功时向测试机台发送第二预设绑定信息，基于第二预设绑定信息将各测试板卡设置在测试机台上，得到第二目标绑定结果，在第二目标绑定结果与第二预设绑定信息匹配成功时，测试机台对各目标被测器件进行测试，得到测试结果。由此，通过将上下料机台上的各测试板卡对应的第一目标绑定结果与第一预设绑定信息匹配，以及将测试机台上的第二目标绑定结果与第二预设绑定信息匹配，避免了目标被测器件被设置在不可以使用得槽位上，以及确保了测试板卡可以准确的设置在相应的测试机台中。