开短路测试装置及开短路测试设备

AITNT
正文
推荐专利
开短路测试装置及开短路测试设备
申请号:CN202411958260
申请日期:2024-12-27
公开号:CN119556190A
公开日期:2025-03-04
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种开短路测试装置及开短路测试设备,该装置包括:第一连接器,包括绕预设轴线间隔布设的多个第一连接引脚,第一连接引脚与芯片的多个待测引脚中对应待测引脚电连接;第二连接器,包括多个第二连接引脚,第二连接引脚与对应第一连接引脚电连接;驱动件和测试线,驱动件与第一连接器和/或第二连接器相连,驱动第一连接器和/或第二连接器绕预设轴线旋转使一第一连接引脚通过对应的一个第二连接引脚与测试线电连接;测试线为电连接的待测引脚提供测试电流或测试电压;接地件与多个第二连接引脚中除该第二连接引脚外的第二连接引脚电连接。本申请可以缩小PCB板面积、降低版图难度、降低PCB板制造难度、减少所需GPIO接口。
技术关键词
开短路测试装置 短路测试设备 电流提升装置 接地件 测试线 微控制器 驱动件 PCB板面积 电源管理单元 检测芯片 接地环 凹槽 环形 电压 版图
系统为您推荐了相关专利信息
1
半导体装置及制造半导体装置的方法
半导体装置 焊盘 测试结构 测试线 沟道结构
2
芯片测试转接装置
测试转接装置 测试转接板 主机端 芯片测试效率 芯片测试技术
3
一种芯片测试设备
芯片测试设备 测试线 插头 测试板 夹持件
4
一种芯片取放装置
芯片取放装置 吸取机构 吸附件 导向件 中空轴
5
显示模组及显示装置
测试线 显示模组 转接块 覆晶薄膜 电源芯片
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号